日本AND分析天平BM-22是一种高精度的微量分析天平，它可以测量最小显示精度为1微克（μg）的样品重量。它具有以下特点：日本进口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式长力臂电磁传感器，内部分辨率为1/25,000,000。 内藏校准砝码，仅需按一下校准专用键（CAL）即可自动完成。全天候自动自我校准系统（Automatic Self Calibration）。配置不容易受风影响的网

BM 自动微量分析天平追求高精度计量：最高精度可达2500万分之一，采用无风电离器和导电涂层的防风玻璃，解决静电产生的问题。分析天平BM-252是一款稳定性高的微量分析天平，精度可达0.01mg，重复性0.03mg，稳定时间约8S。

日本AND分析天平FX-154电子天平量程150g，精度0.0001g。坚固的机身上壳采用铝压铸，盘秤和机身下壳采用不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。

日本AND分析天平FX-254高精度稳定称重，量程 252g、可读性 0.1mg，配 C-SHS 超级混合传感器，1.5 秒快速稳定，重复性≤±0.0001g，适配微量精密分析。

日本 AND GF‑224A 电子分析天平 0.1mg万分之一精度，称量稳定精准，内置防风罩，抗干扰性强。适用于化工、制药、食品、质检、高校实验室等样品称量、配比、检测分析，操作便捷，数据可靠，满足高精度称量需求。

FX-154 万分之一精密分析天平量程150g，精度是0.0001g。坚固的机身上壳采用铝压铸，盘秤和机身下壳采用不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。

AND FX-254 高精度分析天平量程250g，精度是0.0001g。坚固的机身上壳采用铝压铸，盘秤和机身下壳采用不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。

AND GF-224A 原料配比分析天平具有自动环境检测功能，当环境温度变化时自动校准，确保计量精度。（GX-AE）有内置无风静电消除器，静电消除速度是常规除电装置的2保。

GF-224A 日本 AND 分析天平具有自动环境检测功能，当环境温度变化时自动校准，确保计量精度。（GX-AE）有内置无风静电消除器，静电消除速度是常规除电装置的2保。

日本AND内校分析天平FZ-254称盘尺寸是Φ90mm，量程252g，精度0.0001g。