日本AND分析天平BM-22是一种高精度的微量分析天平，它可以测量最小显示精度为1微克（μg）的样品重量。它具有以下特点：日本进口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式长力臂电磁传感器，内部分辨率为1/25,000,000。 内藏校准砝码，仅需按一下校准专用键（CAL）即可自动完成。全天候自动自我校准系统（Automatic Self Calibration）。配置不容易受风影响的网

BM 自动微量分析天平追求高精度计量：最高精度可达2500万分之一，采用无风电离器和导电涂层的防风玻璃，解决静电产生的问题。分析天平BM-252是一款稳定性高的微量分析天平，精度可达0.01mg，重复性0.03mg，稳定时间约8S。

FX-154 万分之一精密分析天平量程150g，精度是0.0001g。坚固的机身上壳采用铝压铸，盘秤和机身下壳采用不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。

AND FX-254 高精度分析天平量程250g，精度是0.0001g。坚固的机身上壳采用铝压铸，盘秤和机身下壳采用不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。

AND GF-224A 原料配比分析天平具有自动环境检测功能，当环境温度变化时自动校准，确保计量精度。（GX-AE）有内置无风静电消除器，静电消除速度是常规除电装置的2保。

GF-224A 日本 AND 分析天平具有自动环境检测功能，当环境温度变化时自动校准，确保计量精度。（GX-AE）有内置无风静电消除器，静电消除速度是常规除电装置的2保。

日本AND内校分析天平FZ-254称盘尺寸是Φ90mm，量程252g，精度0.0001g。

日本AND精密电子天平FX新款系列最小精度是0.0001g-0.01g，量程是102g至5200。坚固的机身材料铝压铸，盘秤不锈钢。这款天平兼具分析天平的精度和经济性，性能可靠，适用于科研、质量控制和生产制造在内的各个领域，且价格实惠。 日本AND分析天平FX-154是一款外校分析天平，量程152g.精度0.0001g.

日本AND分析天平HR-250A电子天平量程252g，显示精度：0.0001g. 快速２秒稳定：采用高灵敏度C-SHS传感器。

日本AND双量程分析天平GR-202是通用型分析天平,内置自动校准砝码，单键全自动校准，玻璃门易开启手柄，能自动环境修正,标准计算机接口，符合GLP及GMP标准。