日本AND电子天平是实验室质量控制的标准仪器，但其对环境、操作及维护敏感。在使用过程中，可能会因温湿度波动、静电干扰、操作不当或校准缺失，出现读数漂移、重复性差、无法归零、显示异常或称量结果偏差大等问题，直接影响实验数据可靠性。掌握
日本AND电子天平典型故障的成因与高效解决方法，是保障测量准确的关键。
一、读数持续漂移或不稳定
原因：气流扰动、温度变化、防风罩未关闭、样品吸湿/挥发或静电影响。
解决方法：
确保防风罩闭合，远离空调出风口、门窗及人员走动区域；
样品恒温30分钟后再称量，避免热对流；
对易吸湿/挥发样品，使用带盖称量舟并快速操作；
开启内置静电消除器，或用抗静电刷处理样品容器。
二、无法归零或零点偏移大
原因：秤盘有残留物、水平未调平、传感器受冲击或环境振动。
解决方法：
清洁秤盘及防风罩内壁，确保无灰尘、纤维附着；
查看电子水平泡，调节底脚至屏幕显示“水平OK”；
将天平置于稳固大理石台面或专用防震台，远离离心机、水泵等振源；
执行“去皮”或“清零”前，等待读数稳定（波动＜0.1mg）。
三、重复性差（同一样品多次称量结果不一致）
原因：操作手法不一致、手温传导、磁力干扰或校准失效。
解决方法：
使用镊子或手套取放样品，避免手直接接触称量舟；
确认样品及容器无磁性（如不锈钢304可能含铁），改用玻璃或塑料器皿；
检查周围是否有强磁场设备（如磁力搅拌器），保持1米以上距离；
重新执行内校（按CAL键）或外校（使用标准砝码），验证线性误差。
四、显示“Err”“OL”或无响应
原因：超量程、传感器过载、电源故障或内部元件损坏。
解决方法：
“OL”表示超载，立即移除物品，静置5分钟后重启；
检查电源适配器输出是否正常（通常DC12V）；
若曾遭受跌落或重击，需送厂检测传感器是否位移或线圈断裂；
避免在雷雨天气使用，防止浪涌损坏主板。
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