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精准测量新突破!日本AND BM-5微量分析天平发布,助力科研与工业检测升级

更新时间:2025-09-01   点击次数:86次

精准测量新突破!日本AND BM-5微量分析天平重磅发布,助力科研与工业检测升级

精准测量新突破!日本AND BM-5微量分析天平发布,助力科研与工业检测升级


近日,一款专注于微量级样品测量的新型分析设备——BM-5微量分析天平正式推向市场。该产品凭借超高精度、稳定性能与智能化设计,为生物医药、材料科学、环境监测等对测量精度要求严苛的领域,提供了更可靠的检测解决方案。


据了解,BM-5微量分析天平的核心测量精度可达0.1微克级别,能精准捕捉极细微的样品质量变化,有效解决了传统设备在微量样品称量中误差较大的痛点。同时,设备搭载了抗干扰振动补偿技术,即使在实验室常规环境波动下,也能保持数据稳定性,减少外界因素对测量结果的影响。


在操作体验上,BM-5进行了多项优化。其配备的高清触控屏支持一键校准、数据导出功能,可直接将测量结果同步至电脑或实验室管理系统,简化数据记录与分析流程;机身采用防腐蚀材质,适配化学试剂、生物样本等特殊样品的称量场景,延长设备使用寿命。


“微量分析是科研突破与工业质控的关键环节,BM-5的推出,就是为了让精准测量更高效、更便捷。"品牌负责人表示,目前该设备已通过多项行业检测认证,未来将进一步适配不同行业的定制化需求,为更多领域的技术创新提供基础支撑。